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产品详情
半导体激光器光谱和功率测试系统
  半导体激光器所发出的激光具有一定的发散角,直接照射探测器,不能获得准确的功率值。CPLD150激光光谱功率测试系统,使半导体激光器发出的激光在积分球内形成均匀的光强分布,由光功率计和光纤光谱仪分别测量波长和功率,通过专业的软件输出测量结果。测量波长范围200-1100nm,分辨率0.1-1nm,功率范围:100nW-10W。<div style="font-variant-numeric: normal; font-variant-east-asian: normal; white-space: normal; background-color: rgb(255, 255, 255); font-stretch: normal; font-size: 14px; line-height: 30px; font-family: &

  半导体激光器所发出的激光具有一定的发散角,直接照射探测器,不能获得准确的功率值。CPLD150激光光谱功率测试系统,使半导体激光器发出的激光在积分球内形成均匀的光强分布,由光功率计和光纤光谱仪分别测量波长和功率,通过专业的软件输出测量结果。测量波长范围200-1100nm,分辨率0.1-1nm,功率范围:100nW-10W。

产品特点:

● 最大功率可达10W
● 积分球与光功率探头一起校准
● 波长可覆盖200-1100nm

● 专用软件可以一键获取光谱及光功率数据

应用:

半导体激光器光谱和功率测量

产品组成:

1.积分球

创谱仪器提供的CPISA150积分球为全铝壳体,内球径为150mm。激光器处于积分球的顶部,与探测器和SAM905适配器成90°分布。光纤光谱仪通过光纤连接积分球SMA905适配器。

● 激光器、探测器和SMA905适配器的位置可根据用户的具体需求进行调整。
● 激光器适配器可根据用户的具体尺寸要求进行设计。
● 探测器与积分球同时校准。
● 涂层波长范围200-1100nm。

● 涂层损伤阈值10W/cm2

2.光功率计:

创谱仪器CPM07系列手持式光功率计,外形适中,配备了大尺寸的LCD段码显示屏,也可以通过USB2.0接口与计算机实时通讯,支持双路采集模式。创谱仪器也提供多种光电探测器选择,波长范围200nm-1100nm,功率范围100pW-10mW

3.光纤光谱仪

创谱仪器提供的光纤光谱仪,体积只有名片大小,分辨率高达0.35nm-1nm,而66系列光谱仪分辨率高达0.1nm。两个系列的光谱仪都提供波长响应范围分为200nm-1000nm和300nm-1100nm的探测器供用户选择。

4.其余光电元器件,欢迎来电咨询!



产品简介 :

  半导体激光器所发出的激光具有一定的发散角,直接照射探测器,不能获得准确的功率值。CPLD150激光光谱功率测试系统,使半导体激光器发出的激光在积分球内形成均匀的光强分布,由光功率计和光纤光谱仪分别测量波长和功率,通过专业的软件输出测量结果。测量波长范围200-1100nm,分辨率0.1-1nm,功率范围:100nW-10W。<div style="font-variant-numeric: normal; font-variant-east-asian: normal; white-space: normal; background-color: rgb(255, 255, 255); font-stretch: normal; font-size: 14px; line-height: 30px; font-family: &

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