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产品详情
CPPSZ真空加热探针台

产品名称:真空加热探针台

产品型号:CPPSSZ32

真空度:优于5Pa

最高加热温度:300℃


CPPSSZ系列真空加热探针台

真空加热探针台.jpg

名称:真空加热探针台

型号:CPPSSZ32

外形尺寸:450×600×1200mm(加整体焊接支架)

产品应用:晶圆/半导体材料气敏测试,IV,CV,PIV测试,高温无氧化测试等

适用于样品尺寸:低于4英寸

真空获得方式:机械泵抽真空

样品盘加热温度:最高300℃,温控精度±1℃

测试漏电流精度:100fA

探针调节精度:10微米(也可选择5微米,3微米,1微米精度)


                                                    CPPSSZ系列真空加热探针台配置单

尺寸320×230×210mm,材质优质铝合金,内表面电解抛光,外表面阳极氧化本色
上盖40直径石英观察窗,可开启,下表面可以和光学平台直接连接
配有多个接口,2个KF16,4个KF25,一个备用充气口,一个旋转控制阀门,一个放气阀门口
温控样品盘尺寸4英寸,铝合金材质,平面度5微米
温控仪采用日本岛电温控器,显示精度0.1℃,温控精度±1℃,最高可达300℃
探针座10微米三维调节,可调磁力底座,万向调节夹具,配备美国进口爱默生线和进口三同轴接口
真空获得以及测量系统采用成都睿宝真空计,安装1个全金属电阻规
真空泵选择合资机械泵,抽速6L/秒
显微镜系统放大倍数7-180倍无级调节,500万像素,搭配8寸显示器,匹配万向调节架和升降台,可以无级调节




产品简介 :

产品名称:真空加热探针台

产品型号:CPPSSZ32

真空度:优于5Pa

最高加热温度:300℃

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