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产品详情
CCD光电性能测试系统

◆ 产品名称:CCD光电性能测试系统

◆ 产品应用:主要用于线、面阵CCD光电相应性能测试。

◆ 产品名称:CCD光电性能测试系统

◆ 产品应用:主要用于线、面阵CCD光电相应性能测试。

◆ 产品介绍:本系统能够解决空间光学遥感器研制中光电成像器件选型、采取抗辐射加固设计及辐射校正设计及为光电成像

器件受辐照后性能变化的机理研究提供检测手段等诸多科学问题;同时能够在业界对光电成像器件抗辐射性能评价

的标准化和规范化起到积极推进作用。

◆ 产品主要测试功能:

1) 饱和输出电压(SV)

2) 饱和曝光量(SE);(A光源)

3) 光辐射响应度(灯光照明下的R);绝对辐射照度响应度(A光源)

4) 相对光谱响应度RS;

5) 响应度均匀性(PRNU);

6) 响应度非线性度;

7) 电荷转移效率(CTE);

8) 光谱和白光传递函数(MTF);

9) 暗信号(DS);

10) 暗噪声(VNOISE);

11) 噪声等效曝光量(NEE);

12) 动态范围(DR);

13) 非线性度(NL);

14) 固态图片噪声(FPN)。

◆ 产品主要技术指标:

★ 工作光谱波段:380nm~1100nm;

★ 最大可测量CCD尺寸: 100mm×100mm;

★ 光源均匀性:优于1%;

★ 光源稳定性:优于0.5%/h;

★ 光谱分辨率:<2nm;

★ A/D量化等级:14bit;

★ 动态范围:80dB;

★ 测量绝对值不确定度:5%;

★ 重复性误差:2%。




产品简介 :

◆ 产品名称:CCD光电性能测试系统

◆ 产品应用:主要用于线、面阵CCD光电相应性能测试。

评价

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